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CEMS(连续排放监测系统)
MIP
Ducon在1999年采购了KVB激光不透明度连续监测生产线,扩大了排放监测市场业务。我们向CEMS和PGA(过程气体分析仪)市场提供全系列的分析仪、分析系统和解决方案。MIP为客户提供污染监测工具和过程气体分析仪系统,包括设计、采购、整合、试验和现场服务。
MIP
Ducon领先的技术一直是增值的系统整合途径,能够满足市场不断变化的要求的以客户为中心的方案。在由达数十年分析测试设备经验的专业人士组成的团队的管理下,我们联合了顶级的子系统供应商,包括光具座、取样系统分总成、满足EPA
40CFR第60和75部分规章的DAHS,厂内装配、以及试验与标定设备。
我们愉快地提供CEMS完整套件,包含(i)非分散型红外线(NDIR)实地交叉流分析仪和探针类型分析仪,可用于碳氧化物、硫氧化物、氮氧化物、碳氢化合物低浓度测量,(ii)完全萃取CEMS,用于硫氧化物、氮氧化物、碳氧化物、氨气和其它种类低浓度测量,(iii)高级的基于激光的不透明度/灰尘监测,(iv)具有远程访问能力的CEMS和COMS数据采集系统,(v)红外线无接触烟囱流量监控器,(vi)汞CEMS和氨分析仪。
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